相干采样
给定采样率、FFT 点数和期望输入频率，选取与 N 互质的周期数 M（素数或奇数），得到精确的相干输入频率，避免频谱泄漏、无需加窗。
输入参数
计算结果
点按结果可复制数值；支持输入 4.7k、100n、2u2 等工程写法
计算公式
fin / fs = M / N
M ≈ N · fin,期望 / fs，取整为与 N 互质的整数（N 为 2 的幂时取奇数，常取素数）
fin,相干 = M · fs / N，频率分辨率 Δf = fs / N
原理与说明
FFT 默认信号在记录长度内周期延拓。若记录正好包含整数 M 个信号周期，基波能量全部落在 bin M 上，没有频谱泄漏，不必加窗即可准确测量 SNR、THD、SFDR——这就是 ADC 动态测试常用的相干采样。
为什么 M 要与 N 互质
- 若 M 与 N 有公因数 k，则每 N/k 个点就会重复，记录中只有 N/k 个不同的采样相位，量化误差呈周期性、集中到少数谐波 bin 上，测得的 SNR/谐波会失真。
- N 取 2 的幂时，只需 M 为奇数即可互质；取素数还能让谐波分散到不同 bin，便于区分。
使用提示
- 信号源分辨率要足够（例如 0.001 Hz），且最好与采样时钟锁相到同一参考。
- 做欠采样测试时，输入频率可高于 fs/2，本工具会按混叠后的频率选取 M。